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高纯硅微粉中痕量铀的测定
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摘要
介绍了用TBP萃淋树脂分离富集———激光荧光法测定硅微粉中痕量铀的分析方法。该方法具有灵敏度高 ,重现性好 ,操作方便的特点。
作者
楼芳彪
周建浩
钱跃言
朱敬体
机构地区
浙江省化工研究院
出处
《浙江化工》
CAS
1999年第3期42-43,共2页
Zhejiang Chemical Industry
关键词
硅微粉
铀
激光荧光法
测定
集成电路
塑料封装
分类号
TN405.94 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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