摘要
针对研制阶段金字塔式的系统可靠性增长试验过程,建立了一个系统可靠性增长的综合评估模型。提出了将子系统可靠性增长试验数据折合为指数寿命型试验数据的方法。利用系统可靠性结构,系统可靠性原点矩与子系统可靠性原点矩之间的关系,将子系统试验数据综合为系统试验数据,并分别针对系统有、无增长试验数据的情况,设计了不同的评估方法。
In this paper,we establish a m odelto evaluate system reliability grow th by the subsystem testdata. First,w e presentthe m ethod forthe subsystem to change the reliability grow th data to theexponentiallife testdata. Then,w e use the structureofsystem ,therelationship betw een thesystem reliability m om entsand thesubsystem reli ability m om ents tosum m arizethesubsystem data to thesystem data.To the differentsituation thatsystem being test ed or not,w e give differentevaluation m odel.A num ericalexam ple illustrates the use ofthe m odel.
出处
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
1999年第11期94-96,共3页
Systems Engineering and Electronics