摘要
大外径千分尺测量面的平行度和错位的检测比较困难,文章介绍一种简易方便的测量器具。
It＇s difficult to measure surface parallelism and dislocation of the L-micrometer,so a simple and convenient measuring instruments is proposed.
出处
《制造技术与机床》
CSCD
北大核心
2011年第5期92-93,共2页
Manufacturing Technology & Machine Tool
关键词
大外径千分尺
测量面
平行度
错位
检测
The Big Micrometer
Measuring Surface
Parallelism
Dislocation
Detection
