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提高测试速度增加测试灵活性的开关系统

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作者 Kirsop,D 陈红霞
出处 《微电子测试》 1990年第1期43-48,共6页
关键词 自动测试系统 测试 速度 开关系统
分类号 TP216.1 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
  • 相关文献
微电子测试
1990年 第1期

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