关于超大规模集成电路老化的现实考虑
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1刘英歌.计算机辅助集成电路的老化[J].光学精密工程,1998,6(6):126-132. 被引量:2
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2王鲁宁.集成电路老化温度与耗散功率、频率关系的研究[J].舰船电子工程,2009,29(9):172-174. 被引量:3
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3孙权,付萌萌.一种基于标准库单元的集成电路老化检测方案[J].物联网技术,2015,5(2):32-33.
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4温平平,焦慧芳,贾新章,罗雯,王群勇,魏建中.VLSI老化筛选试验技术的挑战[J].电子产品可靠性与环境试验,2004,22(5):21-25. 被引量:5
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5翟贵荣.用提高电源电压法排除电话拨号故障[J].家电检修技术(电脑.办公室设备.手机版),2005(4):26-27.
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