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24CXX串行EEPROM测试器的设计
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摘要
该测试器可以测试２４ＣＸＸ的读写方式、擦写时间及擦写次数等主要性能指标，它适用于元器件采购或生产使用时对２４ＣＸＸ进行快速的测试和筛选。
作者
严新忠
机构地区
天津轻工业学院自动化系
出处
《自动化与仪表》
1999年第5期12-14,共3页
Automation & Instrumentation
关键词
存储器
EEPROM
测试器
电擦除式
设计
分类号
TP306 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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自动化与仪表
1999年 第5期
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