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光学面形检测仪

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摘要该仪器采用相移式横向剪切干涉技术,是一种数字波面测试技术.其原理是将相干两个剪切波面中的一个波面作阶梯式或连续变化,从而使干涉场中的干涉条纹作阶梯式或连续式扫描.

作者苗静

出处《西安工业大学学报》 CAS 2011年第2期198-198,共1页 Journal of Xi’an Technological University

关键词检测仪面形光学剪切波面干涉技术横向剪切连续变化测试技术

分类号 TH744 [机械工程—光学工程]

引文网络
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1苗静.光学面形检测仪[J].西安工业大学学报,2013,33(7):602-602.
2苗静.光学面形检测仪[J].西安工业大学学报,2009,29(4):395-395.
3苗静.光学面形检测仪[J].西安工业大学学报,2014,34(7):574-574.
4苗静.光学面形检测仪[J].西安工业大学学报,2014,34(3):231-231.
5苗静.光学面形检测仪[J].西安工业大学学报,2012,32(11):873-873.
6苗静.光学面形检测仪[J].西安工业大学学报,2014,34(9):746-746.
7苗静.光学面形检测仪[J].西安工业大学学报,2013,33(3):218-218.
8苗静.光学面形检测仪[J].西安工业大学学报,2010,30(3):306-306.
9苗静.光学面形检测仪[J].西安工业大学学报,2014,34(10):840-840.
10非球面光学面形检测仪[J].西安工业学院学报,2006,26(2):149-149.

西安工业大学学报

2011年第2期

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