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一种测试多因素引起的系统误差的新方法

A New Method for Testing Systematic Errors Caused by Multifactors
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摘要 本文提出了一种测试多种因素引起的系统误差的新方法。建立了模拟和数字混合电路的系统误差的数学模型,给出了相应的数据处理方法。数据处理考虑了试验点选择和模糊群消除等问题。本文还给出了两个实用和具有复杂模型的应用实例。 A new method for testing systematic errors caused by multifactors is presented in this paper. A mathematic model of systematic error for mixed mode circuits is built up. A data processing method in which the selection of test points and the elimination of ambiguity groups are included is proposed. Two practical examples with complex mathematic models are also given.
作者 陶然 童光球
出处 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第6期564-567,共4页 Chinese Journal of Scientific Instrument
关键词 测试 系统误差 混模电路 模糊群 电磁测量 Test Systematic error Mixed mode circuits Ambiguity group D/A converter Sign factor
  • 相关文献

参考文献5

  • 1陶然,赵新民,童光球.D/A转换器的模型化测试策略[J].计量学报,1993,14(2):124-129. 被引量:1
  • 2陶然,计量学报,1993年,124页
  • 3杨克劭,矩阵分析,1988年
  • 4黄琳,系统控制理论中的线性代数,1984年
  • 5樊映川,高等数学讲义.下,1978年

二级参考文献3

  • 1杨克劭,矩阵分析,1988年
  • 2张锡文,电子技术应用,1986年,9卷,17页
  • 3黄琳,系统与控制理论中的线性代数,1984年

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