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小型电磁继电器动态特性测试系统 被引量:6

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摘要 提出了一种光机电相结合,采用 C C D 电荷耦合器件测量电磁继电器动态特性的方法,阐述了其基本工作原理,分析了测试系统硬件及实验结果。
作者 钱忠平
出处 《继电器》 CSCD 1999年第5期47-48,共2页 Relay
  • 相关文献

参考文献10

  • 1黄鸿俊 张冠生.电磁机构动态分析与计算[M].机械工业出版社,1993.10.
  • 2(苏)A.C.巴特拉柯夫 等.激光测量系统[M].电子工业出版社,1989.8.
  • 3蔡文贵.CCD技术与应用[M].电子工业出版社,1992.11.
  • 4何立民.MCS-51系列单片机应用系统设计.系统测量与接口技术[M].北京航空航天大学出版社,1990..
  • 5黄鸿俊,电磁机构动态分析与计算,1993年
  • 6蔡文贵,CCD技术与应用,1992年
  • 7周祖成,电荷耦合器件在信号处理图象传感中的应用,1991年
  • 8何立民,MCS-51系列单片机应用系统设计,系统测量与接口技术,1990年
  • 9巴特拉柯夫 A C,激光测量系统,1989年
  • 10苏大图,光学测量与象质鉴定,1988年

共引文献8

同被引文献47

引证文献6

二级引证文献37

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