摘要
用小角度掠射 Ｘ 光法对工业纯铝，４５＃ 钢等材料表面经离子注入改性后的表层物质进行了物相分析，这一方法可以准确确定材料表层厚度为几十 ｎｍ 时的物相结构 ，从而为确立材料表层改性的机制提供了较为可靠的依据． 对比实验表明，采用小角度掠射 Ｘ 光衍射法比常规衍射仪法更加突出了表层物质对衍射谱的贡献，这为表面物理的研究提供了一种有效的方法．
关键词
X光衍射
金属材料
物相鉴定
离子注入
表面改性
scanning X Ray diffraction
metal materials
Discriminating materials
surface physics
