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优化划片工艺提高划片合格率
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摘要
在一个晶圆上,通常有几百个至数千个芯片连在一起。它们之间留有80μm至150μm的间隙,此间隙被称之为划片街区。将每一个具有独立电气性能的芯片分离出来的过程叫做划片或切割。通过对DAD3350型划片机的调试、使用,积累了工艺经验;针对工艺中出现的不合格品的情况,进行了工艺分析、原因排查、试验优化等,使划片合格率达到99.5%以上。
作者
王涛
张乐银
机构地区
中国兵器工业第
出处
《集成电路通讯》
2011年第1期25-28,共4页
关键词
切割速度
崩角
划片速度
机械应力
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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