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优化划片工艺提高划片合格率

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摘要 在一个晶圆上,通常有几百个至数千个芯片连在一起。它们之间留有80μm至150μm的间隙,此间隙被称之为划片街区。将每一个具有独立电气性能的芯片分离出来的过程叫做划片或切割。通过对DAD3350型划片机的调试、使用,积累了工艺经验;针对工艺中出现的不合格品的情况,进行了工艺分析、原因排查、试验优化等,使划片合格率达到99.5%以上。
作者 王涛 张乐银
机构地区 中国兵器工业第
出处 《集成电路通讯》 2011年第1期25-28,共4页
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