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离心浇铸制样—X射线荧光光谱法测定硅铁中的硅
被引量：
4
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摘要
采用离心浇铸制样测硅铁中硅的含量,能克服铁合金存在的矿物、效应和颗粒效应,该方法操作简单、快速、结果准确。
作者
姚燕群
魏海青
机构地区
杭州钢铁集团公司技术质量处
浙江省冶金研究院
出处
《浙江冶金》
2011年第2期20-21,共2页
关键词
X射线荧光光谱
硅铁合金
离心浇铸
分类号
TF645 [冶金工程—钢铁冶金]
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