示差扫描量热仪：光学显微镜（FP84HTDSC—PLM）联用热分析技术

本文概述梅特勒公司产品之一的ＣＳＣ－ＰＬＭ示差扫描量热仪与光学显微镜联用。它广泛应用于聚合行科学和工程、化学工业、生物化学等的科研及生产监测。一机多用，同步测量热流和结构形态变化。