激光测量壳体包覆层厚度及误差分析

传统的包覆层厚度测量有很多缺点和问题，本文提出了激光测量壳体包覆层厚度并介绍了其方法。该方法用于测量壳体内壁涂敷的包覆层厚度，壳体内壁包覆层太薄或太厚都会影响器件的正常工作，因此，应对包覆层的厚度进行测量，以免影响其正常工作。