33例高热惊厥患儿及其父母的脑电图分析

我们观察３３ 例不同年龄阶段的高热惊厥患儿及其６６ 位父母的脑电图，并进行随访。于患儿高热惊厥后１～２ 周内复查脑电图，异常率以初次发作者低，反复发作者高。观察结果提示：高热惊厥有一定遗传倾向。认为，通过脑电图检查可监测病情。