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用脉冲电场光电流光谱研究Ne原子的自电离态

STUDY OF Ne AUTOIONISING STATES WITH PULSED ELECTRIC FIELD OPTOGALVANIC SPECTROSCOPY
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摘要 本文用脉冲电场光电流光谱的实验方法测定Ne原子ns'(n=15—31)和nd'(n=13—30)两通道的35条自电离态能级,用参数拟合得出Ne原子ns'和nd'通道的电离阈值,计算了每条能级的量子亏损,实验用脉冲电场代替直流放电,基本上消除了Stark效应在光电流光谱测量中的影响。 35 autoionising energy levels of Ne atom in ns'(n = l5-35) and nd'(n = l3-30) series have been determined experimentally with pulsed electric field optogalvanic spectroscopy. The ionization limit of the ns' and nd' series was found by parametric fitting and the quantum defects of all these levels were calculated. Instead of the direct discharge, pulsed electric field was used in the experiment, to eliminate Stark effects in the optogalvanic spectroscopy.
出处 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1990年第12期1870-1876,共7页 Acta Physica Sinica
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  • 1匿名著者,物理学常用数表,1981年

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