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碳氮薄膜的结构分析
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摘要
对不同沉积条件下沉积在硅基片上的纯碳薄膜、碳氮薄膜以及受不锈钢污染的碳氮薄膜的X射线衍射谱进行了比较分析,并结合晶态碳氮薄的Raman谱分析,认为在这几种工艺条件下是否已合成出β-C3N4尚特进一步研究。
作者
赵敏学
机构地区
中国人民武装警察部队学院科研所
出处
《真空科学与技术》
CSCD
北大核心
1999年第A10期81-84,共4页
Vacuum Science and Technology
关键词
气相沉积
碳氮薄膜
X射线衍射
Β相
分类号
O484.5 [理学—固体物理]
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真空科学与技术
1999年 第A10期
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