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碳氮薄膜的结构分析 被引量:1

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摘要 对不同沉积条件下沉积在硅基片上的纯碳薄膜、碳氮薄膜以及受不锈钢污染的碳氮薄膜的X射线衍射谱进行了比较分析,并结合晶态碳氮薄的Raman谱分析,认为在这几种工艺条件下是否已合成出β-C3N4尚特进一步研究。
作者 赵敏学
出处 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 1999年第A10期81-84,共4页 Vacuum Science and Technology
  • 相关文献

参考文献1

  • 1赵敏学 顾有松 等.-[J].真空科学与技术,1997,17(5):343-343.

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引证文献1

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