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重新审视测试需求和测试仪器发展 被引量：1

Reconsidering testing requests and the development of instruments
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摘要 通过分析全新的测试需求,发现测试仪器遇到的瓶颈问题,进而探求全新测试仪器架构的观念和定义,展示最新的测试技术发展趋势。
作者 李健
机构地区 <电子产品世界>
出处 《电子产品世界》 2011年第7期9-10,13-19,共9页 Electronic Engineering & Product World
关键词 测试仪器 测试需求 电子测试 模块化 总线
分类号 TP216.1 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献4

  • 1郭巍,赵英,曲延涛.组态软件关键技术研究[J].电测与仪表,2006,43(3):49-52. 被引量：8
  • 2AXle 1.0:基础体系结构标准:版本1.0,2010年6月30.
  • 3AXle31:半导体测试扩展标准,版本10,2010年6月30日.
  • 4中国仪器仪表学会,仪器科学与技术学科发展报告,中国科学技术出版社,2007

共引文献5

同被引文献4

  • 1TDK领先的电波暗室技术亮相EMC2011[R/OL](2011-7-4)http://www.eepw.com.cn/article/121023.htm.
  • 2TDK新建最先端大型高性能电波暗室[R/OL](2008-9-4).http://www.eepw.com.cn/article/87721.htm.
  • 3微波暗箱反射率电平分析与测量[R/OL].(2007-6-12).http://www.eepw.com.cn/article/60249.htm.
  • 4王莹,李希靖.我国汽车电子业现状及部分新技术探悉[J].电子产品世界,2011,18(8):11-18. 被引量：4

引证文献1

电子产品世界
2011年 第7期

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