磁光记录薄膜温度特性测量方法研究

光调制直接重写磁光盘为多层耦合膜，要求各功能层厚度很小，同时饱和磁化强度从很低，用一般的VSM测量系统的测定各功能层的Ms及其与温度的关系比较困难。我们采用了多种技术，包括隔震技术、仪器参数综合优化和误差分析等方法，提高了VSM测量灵敏度，成功测出了磁光记录薄膜各功能层的温度特性及其居里温度，取得了很好的效果。