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光调制直接重写磁光双层耦合膜磁基本特性的一种解耦方法

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摘要 采用FFT方法对光调制直接重写磁光双层耦合膜的磁基本特性进行解耦,得到各单层薄膜在耦合状态下的特性,并用于分析计算磁光双层耦合膜之间的层间耦合能。
出处 《磁记录材料》 1999年第3期8-9,34,共3页 Magnetic Recording Materiais
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  • 1张宜华.精通MATLAB5[M].北京:清华大学出版社,1999..

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