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密封器件内部气氛测试技术
被引量：
3
A Measurement Technology for Internal Vapor in Sealed Devices
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摘要
器件内部腔体的有害气氛是影响器件可靠性的主要原因之一。检测及分析器件内部腔体气氛是提高器件可靠性的重要依据．对密封器件内部气氛分析表明，我国在器件封装工艺质量方面存在较大缺陷，需及时解决。
作者
吴文章
蔡懿
机构地区
信息产业部电子第五研究所
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1999年第5期36-39,共4页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词
密封器件
内部气氛
可靠性
电子器件
测试
分类号
TN606 [电子电信—电路与系统]
TN06 [电子电信—物理电子学]
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