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一个不完全排错状态下的软件可靠性增长模型

A Software Reliability Growth Model Under Imperfect Debugging
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摘要 在充分地考虑了软件排错过程特点的基础上,将现有的可靠性增长模型中“完全排错”的假设修改为“不完全排错”,使之更符合实际情况.通过将软件错误分为不同的两类来刻画,得到了一个软件可靠性增长模型,该模型含有两个参数,使用起来较为方便. The character of software debugging process is considered, the method for improving to the hypothesis of \!perfect debugging\' in Reliablity Growth Model nowdays is given, a hypothesis of \!imperfect debugging\' which is more suits to realistic situation is presented. Dividing the software faults into two classes, we get a new software reliability growth model.This model contains two parameters which is great convenience to use. \;
作者 余东 杨勤荣
出处 《武汉大学学报(自然科学版)》 CSCD 1999年第5期703-705,共3页 Journal of Wuhan University(Natural Science Edition)
关键词 软件可靠性 软件错误 非齐次泊松过程 软件开发 software reliability primary and secondary software failures imperfect debugging non-homogeneous poisson process
  • 相关文献

参考文献3

  • 1Sheng Zhou,Relativistic Quantum Mechanics and Quantum Fields,1995年
  • 2ZEEPHONGSEKULP,IEEE Trans Reliability,1994年,43卷,3期,408页
  • 3Xu Renzuo,Software Reliability Models and Applications,1992年,65页

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