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硅单晶中位错电镜衍衬像的计算机模拟
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摘要
本文用电子计算机模拟了硅单晶中位错的电镜衍衬像。计算模拟像与集成电路硅材料中出现的位错的电子显微镜实验像符合较好。用计算像的方法准确地确定了位错的特性。文中还对改变试样厚度、衍射偏离参量以及吸收系数等不同条件下的位错像作了计算模拟。
作者
尚平
高愈尊
李永洪
机构地区
北京有色金属研究总院
出处
《稀有金属》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1990年第3期199-202,共4页
Chinese Journal of Rare Metals
关键词
硅单晶
位错
电镜衍衬像
计算机
分类号
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
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稀有金属
1990年 第3期
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