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灿芯半导体第一颗40nm芯片验证成功

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摘要灿芯半导体（上海）有限公司与中芯国际集成电路制造有限公司共同宣布灿芯半导体第一颗40nm芯片在中芯国际一次性流片验证成功。

出处《中国集成电路》 2011年第7期4-4,共1页 China lntegrated Circuit

关键词中芯国际集成电路制造有限公司半导体验证芯片一次性

分类号 TN304.23 [电子电信—物理电子学]

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中国集成电路

2011年第7期

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