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TD-LTE综合测试仪表基带信号生成的研究与实现 被引量:1

The Research and Implementation of Baseband Signal Generation in TD-LTE Comprehensive Test Instrument
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摘要 在对TD-LTE无线终端综合测试仪表的深入研究后,提出了一种TD-LTE系统中下行链路基带信号生成的实现方案,硬件资源得到了较大的优化。在实际的硬件环境下,通过仪表测试验证了该方案的可行性和有效性。 After in-depth study of the TD-LTE Comprehensive Test Instrument,this paper puts forward a design method of TD-LTE downlink baseband signal generation implementation,with which the hardware resources has been greatly optimized.In the actual hardware environment,feasibility and effectiveness are verified through test.
机构地区 重庆邮电大学
出处 《现代电信科技》 2011年第6期18-22,共5页 Modern Science & Technology of Telecommunications
基金 国家科技重大专项(2009ZX3002-009)
关键词 TD-LTE综合测试仪 基带信号生成 FPGA TD-LTE Comprehensive Test Instrument baseband signal generation FPGA
  • 相关文献

参考文献3

  • 13GPP TS 36.211 v8.7.0: Physical Channels and Modulation (Release 8) [S], 2009,6.
  • 23GPP TS 36.212 v8.7.0: Physical Channels and Modulation (Release 8) [S], 2009,6.
  • 3Xilinx Fast Fourier Transform V6.0 User Guide, September ,2008.

同被引文献12

引证文献1

二级引证文献4

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