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通信卫星用GaAs微波场效应晶体管可靠性快速评价技术 被引量：2

Rapid Estimation Technology of GaAs Microwave FET Reliability for Communication Satellite
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摘要 叙述了一种快速评价ＧａＡｓ微波功率场效应晶体管可靠性的方法， 利用该方法对ＧａＡｓ微波功率场效应晶体管ＣＸ５６２ This paper introduces a way of rapidly estimating GaAs microwave power FET reliability.Its used to estimate the reliability of GaAs power FET CX562.
作者 徐立生 马素芝 何建华
机构地区 电子十三所
出处 《半导体情报》 1999年第6期53-55,共3页 Semiconductor Information
关键词 微波 场效应晶体管 可靠性 通信卫星 砷化镓 GaAs microwave power FET Accelerated life test Reliability
分类号 TN368.06 [电子电信—物理电子学]
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同被引文献21

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引证文献2

二级引证文献6

半导体情报
1999年 第6期

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