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近红外显微分光测量仪USPM—RU—W

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摘要 日本奥林巴斯公司将推出近红外显微分光测量仪“USPM—RU—W”。其能够测量物质对从可见光区到近红外区(380nm~1050nm)广泛波长的光的反射率,并具有测定物体颜色和测量多层膜厚的功能。该分光测量仪可用于评估镜头等光学元件的涂层,
出处 《军民两用技术与产品》 2011年第8期38-38,共1页 Dual Use Technologies & Products
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