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LTE芯片和终端测试综述 被引量:1

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摘要 随着TD-LTE试验网在世博会和亚运会的精彩亮相,以及2011年中国移动投入巨资进行的6+1城市试验网建设,业界对中国移动TD-LTE的前景充满期待。测试仪表和测试系统作为TD-LTE产业链中重要的环节,位于产业链的上游,对于产品研发和产业化起着非常关键的作用。并且由于LTE和之前的系统在空中接口上存在很大的不同,所以对于测试就提出了新的挑战和要求。目前,对TD-LTE测试仪表的需求已经涵盖了整个产业链的各个阶段。罗德与施瓦茨中国有限公司的《LTE芯片和终端测试综述》一文介绍了R&S的LTE测试解决方案,并对LTE芯片和终端研发进行了详细的分析和研究,最后针对LTE的终端生产提出了解决方案——R&S的CMW500无线综测仪。
出处 《电信网技术》 2011年第8期81-84,共4页 Telecommunications Network Technology
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