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探析金属膜电阻器的可靠性 被引量:2

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摘要 在现代的电子设备中,由于电阻器的使用量非常大,所以,电子设备出现故障的原因有大约百分之十五是由电阻器失效而引起的,其比例非常的高。因此,电阻器的可靠性就变得尤为重要,本文将对影响金属膜电阻器可靠性的几项重要因素,如可靠性的设计方面、选材方面、制造工艺方面、可靠性保障体系控制方面等进行分析,提出如何提高金属膜电阻器可靠性的方法。
作者 郜晋荣
出处 《安徽电子信息职业技术学院学报》 2011年第4期11-12,共2页 Journal of Anhui Vocational College of Electronics & Information Technology
  • 相关文献

参考文献5

  • 1高雨春.金属膜电阻器基体的结构.电子材料与元件,1989,:59-79.
  • 2顾明德.电阻器与微型器件[M].电子出版社,1996.
  • 3徐建建.金属膜电阻器质量探讨[M].中国科学技术出版社,2007.
  • 4彭苏蛾,王蕴辉,王群勇.质量与可靠性管理[M].电子工业出版社,2004.
  • 5徐式曾,董向红.金属膜电阻器膜层失效机理探讨[M].中国电力出版社,1999.

共引文献2

同被引文献6

引证文献2

二级引证文献7

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