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基于集成电路故障分析与检测方法的分析与探讨
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2
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摘要
伴随着电子技术的发展,集成电路的应用越来越广泛。集成电路的集成度越来越高,集成电路的引出脚也越来越多,对电子电路的故障分析与检测方法要求也越来越高。本文从故障分析与检测方法角度出发,论述了集成电路故障的有效分析、检测方法,对某些分析方法的利弊作了简要的说明。
作者
高洁
机构地区
中国空空导弹研究院
出处
《科技信息》
2011年第25期I0108-I0108,共1页
Science & Technology Information
关键词
集成电路
故障分析
检测方法
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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