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首次提出的全光控制高灵敏纳米光机质谱仪

All-Optical Control of the Highly Sensitive Nanmechanical Mass Spectrometer Being First Proposed

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摘要上海交通大学物理系朱卡的教授（图1）及其博士生李金金（图2）利用等离子体和纳米材料的耦合系统首次提出了用全光控制的方法测量微观粒子的质量。2011年6月，美国物理协会APS的新闻中心PhysicalReviewFocus（PRF）报道了此项以交大为唯一单位的工作，

作者本刊编辑部

出处《实验室研究与探索》 CAS 北大核心 2011年第9期I0001-I0002,共2页 Research and Exploration In Laboratory

关键词纳米材料光控制质谱仪高灵敏光机上海交通大学微观粒子耦合系统

分类号 TN942 [电子电信—信号与信息处理]

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实验室研究与探索

2011年第9期

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