期刊文献+

March算法在BIST电路设计中的作用机制

Mechanism of March Algorithm in a Circuit with Self Built-in Test Function
下载PDF
导出
摘要 基于March CE算法,设计了一种可嵌入式的具有内建自测试功能的电路;在电路和测试方案设计中依据March CE算法中理论公式,并以此为依据叙述了设计过程中的作用机制,给出BIST电路结构原理图和电路设计图,对所设计的电路进行了测试,验证了所设计电路. An embedded circuit with a built-in self test function is designed based on March CE algorithm.The BIST circuit structure and circuit design schematic are presented,and the designed circuit is tested and verified.
作者 张莹 赵纶
出处 《大连交通大学学报》 CAS 2011年第5期98-101,共4页 Journal of Dalian Jiaotong University
关键词 MARCH CE算法 BIST电路 作用机制 March CE algorithm built-in self test mechanism
  • 相关文献

参考文献6

二级参考文献26

  • 1谈恩民,张勇.一种新型的可编程存储器BIST设计[J].电子测量与仪器学报,2004,18(z2):648-651. 被引量:1
  • 2陆思安,何乐年,沈海斌,严晓浪.嵌入式存储器内建自测试的原理及实现[J].固体电子学研究与进展,2004,24(2):205-208. 被引量:15
  • 3陈卫兵.一种新的低功耗BIST测试生成器设计[J].电子质量,2004(11):62-63. 被引量:4
  • 4赵学梅,叶以正,陈春旭,时锐.针对嵌入式Cache的内建自测试算法[J].计算机辅助设计与图形学学报,2005,17(1):110-118. 被引量:4
  • 5Zorian Y. A distributed BIST control scheme for complex VL- SI devices[J]. In Proc:Vl.SI Test Symp, 1993(VTS'93) :4-9.
  • 6Girard P. Survey of low-power testing of VLSI circuit [J]. IEEE Design&Test of Computers, 2002,19 (3) : 82-92.
  • 7Girard P,Guiller L,Landrault C,et al. A modified clock scheme for a low power BIST test pattern generator [J]. In Proc: VLSI Test Symp, 2001 (VTS' 01 ) : 306-311.
  • 8Wang S,Gupta S. DS-LFSR:A new BIST TPG for low heat dissipation[J]. In Proe. Int. Test Conf, 1997, (ITC '97) :848--857.
  • 9LI Jie. A new BIST structure for low power testing[J], in Proc. IEEE. 2003 : 1183-1185.
  • 10Andreas Steininger. Testing and built-in self-test-A survey[ J]. Journal of Systems Architecture, 2000,46: 721 - 747.

共引文献17

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部