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ATE中的浮动V/I源被引量：2

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摘要本文论述了浮动V/I源和共地V/I源的构造区别,及在开尔文检测和多工位并测方面的差异,论述了浮动V/I源的各种类型和应用优势,并分析了浮动V/I源的共模干扰和与此相关的一些认识误区。关键词:浮动V/I源;共地V/I源;多工位并测;

作者孙铣

机构地区北京华峰测控技术有限公司

出处《中国集成电路》 2011年第11期55-63,共9页 China lntegrated Circuit

关键词浮动V/I源共地V/I源多工位并测共模干扰

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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中国集成电路

2011年第11期

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