GE检测控制技术亮相第22届多国仪器仪表学术会议暨展览会

第22届多国仪器仪表学术会议暨展览会（MICONEX2011）于2011年8月30-9月2日在北京中国国际展览中心（老馆）隆重召开。GE检测控制技术在本届展会上再次闪亮登场，展示GE在传感技术，测量、无损检测、状态监测和自动化控制领域的优秀产品和领先技术。