摘要
提出了一种基于改进粒子群算法的组合电路测试生成算法,即在故障模拟的基础上应用改进粒子群算法来进行组合电路的测试生成。在一些电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间。
A new test generation algorithm for combinational circuits based on improved particle swarm optimization that is using the improved particle swarm optimization and fault simulation to generate test patterns of combinational circuits.The experimental results on some circuits demonstrate the method has higher fault coverage and shorter test time.
出处
《弹箭与制导学报》
CSCD
北大核心
2006年第S5期293-296,共4页
Journal of Projectiles,Rockets,Missiles and Guidance
基金
高等学校优秀青年教师教学科研奖励计划资助(2001-226)
关键词
粒子群算法
遗传算法
故障模拟
测试生成
组合电路
particle swarm optimization
genetic algorithm
fault simulation
test generation
combinational circuit
