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成败型产品可靠性鉴定试验探讨
被引量：
1
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摘要
从应用角度出发,对成败型产品可靠性鉴定试验中的几个问题进行了探讨。
作者
林震
程永生
姜同敏
胡斌
机构地区
中国工程物理研究院电子工程研究所
北京航空航天大学可靠性研究所
出处
《航空标准化与质量》
2005年第6期40-42,共3页
Aeronautic Standardization & Quality
关键词
产品
可靠性
鉴定试验
分类号
TB114.3 [理学—概率论与数理统计]
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