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高温贮存对双极器件抗辐射性能的影响

Influence of High-temperature Storage on Radiation-proof Properties of Bipolar Devices
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摘要 介绍F124型四运算放大器1 000 h高温贮存前后4组γ总剂量辐射试验的结果,包括静态异地测试试验、动态原位测试试验结果。对4组试验数据进行对比和分析,最后对结果进行讨论。提出"辐射可靠性"的概念。 The experiment results of F124 4-operational amplifier, under 4 groups total radiation doses at high temperature before and after storage of 1 000 h, including static ex situ test and dynamic in situ test, are introduced. The 4 groups testing data are analyzed. The analytic results are discussed. The concept of radiation reliability is presented.
作者 阎汉民
出处 《电子元器件应用》 2004年第12期17-18,共2页 Electronic Component & Device Applications
关键词 高温贮存 辐射可靠性 双极器件 军用器件 high temperature storage radiation reliability bipolar device military device
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