摘要
TP274 3 2003053902强反射复杂表面随机缺陷检测照明系统分析=Illuminationsystem for detecting random defects on strongly reflectiveand complex surfaces[刊,中]/曲兴华(天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室.天津(300072)),何滢…//光学学报.—2003,23(5).—547-551分析了采用CCD光电检测法对强反射复杂表面随机缺陷进行检测时的光学照明问题。给出了缺陷显现力的具体定义。
出处
《中国光学》
EI
CAS
2003年第5期92-92,共1页
Chinese Optics
