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电子设备耐久性试验的发展
被引量:
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摘要
结合介绍美国专家对电子设备进行耐久性试验的新观点 ,论述了有关电子设备耐久性试验的基本概念、用途、对研制计划和费用的影响以及确定试验的基本步骤等问题 ;最后谈了几点看法。
作者
祝耀昌
徐明
常志刚
机构地区
航空综合环境重点实验室
出处
《航空标准化与质量》
2000年第1期30-33,共4页
Aeronautic Standardization & Quality
关键词
电子设备
耐久性
可靠性
试验
分类号
TN60 [电子电信—电路与系统]
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