期刊文献+

PMMA薄膜的AFM纳米压痕实验研究

Nano-level Indentation Hardness Test of PMMS Film with AFM
原文传递
导出
摘要 研究了采用商用的 AFM对PMMA进行纳米压痕试验,测定 PMMA的力曲线与压痕深度,探讨压痕形成机理和工艺参数的影响,为PMMA的实际应用提供了力学基础。 The nano-level indentation hardness test of the PMMA film with an AFM (Atomic Force Microscope) has been implemented. The measurements of force curve and indentation depth of the PMMA film, and the discussions on the indentation forming mechanism and the influence of technological parameters have provided a mechanical basis for the application of PMMA films into practice.
出处 《航空精密制造技术》 2000年第2期12-15,共4页 Aviation Precision Manufacturing Technology
基金 江苏省自然科学基金资助!BK99006
关键词 原子力显微镜(AFM) PMMA 显微硬度 AFM PMMA microhardness
  • 相关文献

参考文献3

  • 1Rich Dammer,Octavian Popescu,Popescu,Wagner,et al.Science[]..1995
  • 2Albrecht L Weisenhom,Mitra Khorsandi,Sandor Kasas,etal.Nanotechonlogym[]..1993
  • 3S Allen etal.Appl Phys A[]..1998

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部