光学薄膜参数测试

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摘要 O484.5 2000031969TiO2薄膜厚度及其光学常数的测量=Determinationof thickness and optical constants of TiO2 film[刊,中]/王德育,袁春伟（东南大学分子与生物分子电子学实验室.江苏,南京（210096））//东南大学学报.—1999,29（5）.—105-108描述了非线性回归模型在TiO2薄膜的光学常数及其厚度测量中的应用。

出处《中国光学》 EI CAS 2000年第3期71-72,共2页 Chinese Optics

关键词光学常数非线性回归模型薄膜厚度光学薄膜生物分子电子学厚度测量多层膜国家重点实验室东南大学光范围

分类号 O484.41 [理学—固体物理]

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中国光学

2000年第3期

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