摘要
TH742 2000032174一种探针-样品距离的切变力控制新方法=Anonoptical shear-force method for tip-sampledistance rigulation[刊,中]/白永林(西北大学光子学与光子技术研究所.陕西,西安(710069)),张工力(中科院西安光机所.陕西,西安(710068)),任克惠,侯洵(国家瞬态光学技术重点实验室.陕西,西安(710068))//光子学报.—1998,28(2).—120-123报道了近场扫描光学显微镜中一种基于切变力的探针-样品间距控制新方法。条形压电峰鸣器片的表面电极被沿着中心线分成两半,一半用于驱动,其上施加振荡源谐振频率进行激励,另一半上粘附光纤探针,并利用压电效应作为光纤探针的振幅传感器。
出处
《中国光学》
EI
CAS
2000年第3期101-103,共3页
Chinese Optics