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摘要 O484 2000064038碲化物薄膜的附着牢固度与其显微结构的关系=Dependenceof adhesion of films of telluride uponits microstructure[刊,中]/张素英,范滨(中科院上海技物所.上海(200083)),程实平。

出处《中国光学》 EI CAS 2000年第6期47-48,共2页 Chinese Optics

关键词显微结构附着牢固度多层薄膜上海中科院碲化物毫米波透射电镜术关系师范大学

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中国光学

2000年第6期

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