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用于超快脉冲中子测量的条纹像机系统
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摘要
为了测量ICF内爆实验聚变反应的时间过程,建立了计算机MonteCarlo光线追迹程序进行光学辅助设计,研制了主要由BC422塑料闪烁体、消色差透镜组、皮秒条纹像机和制冷增强CCD组成的超快脉冲中子探测系统,其时间响应<40ps。闪烁体与靶丸的最短距离可达2cm,测量下限中子产额为~108。
作者
杨建伦
王根兴
温树槐
朱启华
刘忠礼
唐正元
杨洪琼
郭玉芝
机构地区
西南核物理与化学研究所
出处
《激光与光电子学进展》
CSCD
1999年第S1期86-89,共4页
Laser & Optoelectronics Progress
基金
国家高技术863计划惯性约束聚变领域资助
关键词
惯性约束聚变
中子探测器
条纹像机
光线追迹
分类号
TN247 [电子电信—物理电子学]
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激光与光电子学进展
1999年 第S1期
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