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用于超快脉冲中子测量的条纹像机系统

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摘要 为了测量ICF内爆实验聚变反应的时间过程,建立了计算机MonteCarlo光线追迹程序进行光学辅助设计,研制了主要由BC422塑料闪烁体、消色差透镜组、皮秒条纹像机和制冷增强CCD组成的超快脉冲中子探测系统,其时间响应<40ps。闪烁体与靶丸的最短距离可达2cm,测量下限中子产额为~108。
出处 《激光与光电子学进展》 CSCD 1999年第S1期86-89,共4页 Laser & Optoelectronics Progress
基金 国家高技术863计划惯性约束聚变领域资助
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