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购买高速IC测试设备要注意的问题

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摘要 测试器和送片机的供货商应共同努力克服当今出现的复杂、快速IC的测量问题。传统的送片机吞吐量数据表格和转位时间及相关的指标虽很重要,但是尚不能提供足够的信息筛选出最佳的测试和送片方法。最终评估一套半导体设备。
作者 王绍文
出处 《电子测试》 1999年第10期226-227,共2页 Electronic Test
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