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购买高速IC测试设备要注意的问题
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摘要
测试器和送片机的供货商应共同努力克服当今出现的复杂、快速IC的测量问题。传统的送片机吞吐量数据表格和转位时间及相关的指标虽很重要,但是尚不能提供足够的信息筛选出最佳的测试和送片方法。最终评估一套半导体设备。
作者
王绍文
出处
《电子测试》
1999年第10期226-227,共2页
Electronic Test
关键词
测试器
吞吐量
位时间
测试设备
半导体设备
测试系统
高速
接触器
衡量标准
信息筛选
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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电子测试
1999年 第10期
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