利用边界扫描解决PC卡测试难题

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摘要每一个设计工程师都面临着这样一个挑战:要在不断减小的电路板空间内集成越来越多的电路功能。由于只有有限的可利用空间,从测试观点看,常规小型化技术很快就要接近其临界值。本文阐述了如何在PCMCIA(PC卡)模块上实现成功的测试策略,这种测试方法使用了板上芯片(COB)技术以及边界扫描测试。

作者郭旺

出处《电子测试》 1999年第12期222-223,共2页 Electronic Test

关键词边界扫描器件测试策略快闪存贮器连接测试边界扫描测试小型化电路板测试方法测试观点难题

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电子测试

1999年第12期

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