摘要
本文详细地介绍了一种集成式硬件描述语言(IHDL)和与IHDL相适配的门级电路测试生成系统,实现了从硬件描述语言编译器到自动测试生成的完整系统。从我们的理论分析和实验结果来看,这种完整的系统作为EDACAD中的重要环节是可行的,也是有效的。
An Integrated Hardware Description Language(IHDL)and an automatic test generation system based on IHDL are introduced in this paper.A complete test generation system is implemented from IHDL compiler to automatic test generation.The system is effective in EDA CAD.
出处
《小型微型计算机系统》
CSCD
北大核心
1996年第1期37-42,共6页
Journal of Chinese Computer Systems
关键词
硬件描述语言
测试生成
算法复杂性
Hardware description language,Test generation,Algorithm, Complexity