协同的质量控制——AOI和移动探针电测相结合

AOI和移动探针电测也常被认为可相互替代。实际上它们具有极不相同的技术和各自的优点。当作为互补而不是竞争时,AOI和探针电测(ET)可以共同解决整个PCB制造过程中的问题。所生成的有价值的归档数据,用于今后的生产和过程控制,成为错误检验的一个强有力的工具。 它们的技术除了不同之外也有相似之处。它们都适用于那些产品经常改变。