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JEM—100CX电镜电子束偏转系统故障分析和检修

Analysis and Trouble Shooting for the Beam Deflector Unit in JEM 100CXTEM
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摘要 电镜故障是多方面的.本文就日本JEM—100CX电镜电子束偏转系统的一例故障进行分析及排除,供电镜同行参考. The authors analysed the trouble of the beam deflector in JEM 100CXTEM and summarized the better method for correcting it.This may provide a useful wayfor engineers in maintaining this type of electron microscope.
作者 韩丹 钱纬
出处 《云南大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 1995年第S1期95-97,共3页 Journal of Yunnan University(Natural Sciences Edition)
关键词 JEM─100CX 电镜 偏转系统 检修 JEM 100CX TEM,scabbubg yoke,over haul
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