测试阵列法诊断PLA故障

本文提出的测试阵列法诊断PLA故障充分利用了PLA本身固有的可编程特点来达到简化测试的困难性。所有上升、下降延时故障、各类逻辑故障全部可以检测,并且对延时故障和交叉点故障具有定位功能。